提供全面的可靠性增长试验服务，帮助客户在产品开发早期发现设计缺陷，提升产品可靠性
高加速寿命试验，快速发现产品薄弱环节
高加速应力筛选，剔除早期失效产品
符合JEDEC、MIL-STD等国际标准
通过逐步增加环境应力，快速发现产品的设计缺陷和薄弱环节
快速发现产品设计缺陷和薄弱环节
比传统试验方法快5-10倍
温度、振动等多应力综合施加
在量产阶段用于剔除早期失效产品，提高产品出厂质量
剔除早期失效产品，提高出厂质量
比传统老化试验时间缩短50%以上
适合大批量产品筛选
用于验证产品是否达到预期的可靠性水平
验证产品是否达到预期可靠性水平
为产品质量提供有力保证
提高客户满意度和产品竞争力
我们的可靠性增长试验服务符合多项国际和国家标准，确保测试结果的权威性和可靠性
半导体器件可靠性试验标准
美国军用标准 环境工程考虑和实验室试验
机载设备环境条件和试验程序
光电器件可靠性通用要求
开放计算项目硬件可靠性要求
根据客户需求定制试验方案
我们根据标准评估方法对试验结果进行评估，包括故障模式分析、可靠性指标计算等，提供详细的试验报告和改进建议。